艾德克斯電子負(fù)載是利用電子元件吸收電能并將其消耗的一種負(fù)載。其中的電子元件一般為功率場效應(yīng)管(Power MOS)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等功率半導(dǎo)體器件。由于采用了功率半導(dǎo)體器件替代電阻等作為電能消耗的載體，使得負(fù)載的調(diào)節(jié)和控制易于實(shí)現(xiàn)，能達(dá)到很高的調(diào)節(jié)精度和穩(wěn)定性。同時(shí)通過靈活多樣的調(diào)節(jié)和控制方法，不僅可以模擬實(shí)際的負(fù)載情況，還可以模擬一些非凡的負(fù)載波形曲線，測試電源設(shè)備的動(dòng)態(tài)和瞬態(tài)特性。這是電阻等負(fù)載形式所無法實(shí)現(xiàn)的。
艾德克斯電子負(fù)載的原理是控制內(nèi)功率MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量(量占空比大小),靠功率管的耗散功率消耗電能的設(shè)備,它能夠準(zhǔn)確檢測出負(fù)載電壓,調(diào)整負(fù)載電流,同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)模擬負(fù)載短路,模擬負(fù)載是感性阻性和容性,容性負(fù)載電流上升時(shí)間，開關(guān)電源電源的調(diào)試檢測是*的。
艾德克斯電子負(fù)載是一種模擬真實(shí)負(fù)載的電子設(shè)備，常用于電源等電力驅(qū)動(dòng)設(shè)備的設(shè)計(jì)驗(yàn)證與品質(zhì)檢驗(yàn)。
1)電子負(fù)載可以通過恒電流、恒電壓、恒功率及恒電阻等拉載模式，來模擬各種靜態(tài)負(fù)載。
2)電子負(fù)載可以通過動(dòng)態(tài)、可編程序列等拉載模式，鋼筋掃描儀來模擬現(xiàn)實(shí)中復(fù)雜的動(dòng)態(tài)負(fù)載。
3)電子負(fù)載可以測量電壓、電流、時(shí)間等參數(shù)，實(shí)現(xiàn)智能分析及自動(dòng)測試等復(fù)雜應(yīng)用。
艾德克斯電子負(fù)載選型注意事項(xiàng)：
1)必須確認(rèn)選擇機(jī)型的額定輸入電壓、額定輸入電流、額定輸入功率，能滿足測試需求，并略有余量。
2)有動(dòng)態(tài)測試需求的，應(yīng)確認(rèn)電流斜率是否具有可編程能力，以及斜率控制細(xì)度。
3)對動(dòng)態(tài)測試要求比較高的，應(yīng)確認(rèn)zui大電流斜率是否滿足測試要求。同一系列產(chǎn)品，zui大電流斜率與額定電流成正比，不變的是滿量程電流爬升時(shí)間(Min.Rise Time)，因此，滿量程電流爬升時(shí)間越小，動(dòng)態(tài)性能越*。
zui大電流斜率 = 額定電流 / 滿量程電流爬升時(shí)間
4)對測試環(huán)境比較惡劣的，應(yīng)當(dāng)選擇環(huán)路帶寬比較高的負(fù)載，一般而言，滿量程電流爬升時(shí)間(Min.Rise Time)越小，環(huán)路帶寬越高，惡劣條件下的表現(xiàn)越*(電源輸入抑制比更高)，可靠性也越高(失調(diào)沖擊持續(xù)時(shí)間更短)。
5、對智能應(yīng)用及自動(dòng)化測試要求比較高的用戶，鋼筋掃描儀應(yīng)當(dāng)選擇高采樣率的負(fù)載，高采樣率才能保證輸入信號(hào)的還原、保證伺服應(yīng)用的、為智能應(yīng)用的擴(kuò)展提供條件。嘉拓電子JT631系列采用500Khz同步采樣技術(shù)，可以測量噪聲峰峰值/有效值、瞬態(tài)過沖Vp+、瞬態(tài)跌落Vp-、電源上升/下降時(shí)間等一般負(fù)載無法提供的功能。
6、對生產(chǎn)線應(yīng)用而言，應(yīng)優(yōu)先考慮自動(dòng)測試功能的系統(tǒng)性與便捷性，盡量避免小視角的LCD顯示屏。嘉拓電子JT63系列提供強(qiáng)大的自動(dòng)測試能力，支持創(chuàng)新的眾多瞬態(tài)檢測項(xiàng)，支持動(dòng)態(tài)操作、OCP、負(fù)載效應(yīng)、時(shí)間量測等眾多擴(kuò)展操作模式，同時(shí)，高亮度全視角圖形點(diǎn)陣顯示，也非常適合生產(chǎn)線應(yīng)用。
